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        產品展示 PRODUCTS
        光柵推掃型高光譜儀

        光柵推掃型高光譜儀

        產品型號:
        VIS
        產品名稱:
        光柵推掃型高光譜儀
        產品報價:
        簡單介紹:
        高光譜成像光譜儀采用一種全新的成像技術,通過推掃或調諧波長實現圖像與光譜的合二為一,改變了傳統光譜儀或相機獲取數據單一的缺點,為用戶提供了一種全新的分析手段。這種技術可以廣泛應用在天文、遙感、農業、考古、生物醫學、顏色科學、材料物理及化學等多種科研領域,同時也被廣泛應用在制藥生產、食品檢測、材料分選、LCD、印刷印染等各種工業質量控制領域。
        VIS光柵推掃型高光譜儀的詳細資料

         

        高光譜成像光譜儀 光柵分光成像原理圖

         

        特性描述:

        • 可同時獲取影響及光譜信息;
        • 多種波長范圍及波長分辨率,供用戶根據實際需求彈性選擇;
        • 體積簡介架構牢固,適合工業及科研研究應用;
        • 采用高衍射效率的體全息相位光柵;
        • 低散光低失真高信噪比。

         

        應用領域:
        遙感、食品工程、農產品測量、科學考古、教學科研、生產過程監測
        遙感測量 地面遙感測量 顯微成像 礦物分析

         

        性能參數:

        產品
        HR-Spectral Camera
        HScamera-NIR-1.7
        HScamera-SWIR-2.5
        成像相機
        CCD
        InGaAs
        MCT
        光譜范圍
        VIS380~800nm
        VNIR
        400~1000nm
        NIR900~1700nm
        SWIR1000~2500nm
        像素數(空間x光譜)
        1600 x 1200 / 1920 x 1080
        320 x 256
        320 x 256
        分辨率(可選配)
        2.8nm
         5nm
        10nm
        采集速率
        30
        60/100
        60/100
        濾光片選項
        VIS OBF450
        VNIR OBF570
        OBF1000
        OBF1000
        鏡頭選擇
        焦距 : 9/18.5/23/140
         焦距 : 9/18.5/23/140 遠心
        焦距 : 9/18.5/23/140 遠心
        接頭接口
        Standard C-Mount
        Standard C-Mount
        Standard C-Mount
        數據接口
        Camera Link
        Camera Link
        Camera Link
        軟件
           IOC SIA /ENVI
        IOC SIA /ENVI
        IOC SIA /ENVI
        工作溫度
        5 ~ 40 degree C 不結露
        5 ~ 40 degree C 不結露
        5 ~ 40 degree C 不結露
        可選附件/服務
        實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率測量/透射率測量附件)
        室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
        波長校準服務(必選)
        輻射校準服務(可選)
        實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率/透射率測量附件)
        室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
        波長校準服務(必選)
        輻射校準服務(可選)
        實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率/透射率測量附件)
        室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
        波長校準服務(必選)
        輻射校準服務(可選)

         

        實驗室測量系統:

        對于在實驗室內的測量的用戶,我們推薦選擇實驗室測量系統,系統包括測量暗箱、固定支架、光源、位移臺、反射率測量附件和透射率測量附件,如下圖:
        系統構成原理圖   系統構成實物圖